一，XEDJF局部放電量測(cè)試儀概述:
     XEDJF局部放電量測(cè)試儀是我廠研制開發(fā)生產(chǎn)的一種新型儀器。它基本上保持了原有局部放電檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)和功能，并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實(shí)的攜帶式儀器。該儀器是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn)，利用脈沖電流法原理研制而成，并滿足GB-7354-2004、GB-1207-97、GB－1208－97中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。

XEDJF局部放電量測(cè)試儀具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)試的試品范圍廣、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。并采用先進(jìn)的抗干擾組件和獨(dú)特的門顯示電路，抗干擾能力強(qiáng)，并具有四種高頻橢圓掃描，適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn)，新產(chǎn)品研制試驗(yàn)，電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試。可供制造廠、科研部門、電力部門現(xiàn)場(chǎng)使用。

 
二、XEDJF局部放電量測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
1．可測(cè)試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF
2．檢測(cè)靈敏度及允許電流(見表1)。
3．橢圓掃描時(shí)基
(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
(2) 旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔，可旋轉(zhuǎn)120度。
(3) 工作方式：標(biāo)準(zhǔn)－擴(kuò)展－直線。
(4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。
4．顯示單元   采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。
(2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。
(3) 增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差10倍±5%。
(4) 細(xì)調(diào)范圍：＞10倍。
(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性：＜5%。
6．時(shí)間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
(2) 窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。
7、脈沖峰值表
(1) 線性指示：0~100誤差不大于5%。
(2)對(duì)數(shù)指示：1~100誤差不大于5%。
 

8、具有輔助識(shí)別放電脈沖相位的零標(biāo)志系統(tǒng)。
9、工作電源  220V±10%   工頻
10、體積：440×430×180mm
11、重量：約15Kg

三，XEDJF局部放電量測(cè)試儀通用試驗(yàn)方法
(一)試驗(yàn)?zāi)康?br /> (1) 證實(shí)試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
(2) 測(cè)定電壓上升時(shí)出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時(shí)的*低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時(shí)放電低于規(guī)定值時(shí)*電壓(終止放電電壓)。
(3) 測(cè)定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。
(二)試驗(yàn)條件
(1) 交流電源電壓應(yīng)為正弦波，不應(yīng)有過大的高次諧波。
(2) 試品的電氣、機(jī)械、溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。
(3) 由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗(yàn)前至少幾小時(shí)以上的時(shí)間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗(yàn)電壓*值以上的電壓。
(4) 經(jīng)過搬運(yùn)后的試品，必須靜放一段時(shí)間后再做局部放電試驗(yàn)(油浸)。
(三)試驗(yàn)程序
1. 將試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，各種金屬物體應(yīng)牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應(yīng)特別注意各種地線是否已接地。
2. 根據(jù)不同的試品和試驗(yàn)條件，選擇正確的接線方式。
3.  用視在放電量校準(zhǔn)器（Q視）對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)K校正。如圖1將視在放電量校準(zhǔn)器接入線路中，調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把指針調(diào)至參考值H，則刻度系數(shù)K＝H/Q視（詳見具體操作說明5）　。校正完畢后，測(cè)試儀器的細(xì)調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動(dòng)，同時(shí)應(yīng)將視在放電量校準(zhǔn)器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗(yàn)時(shí)將視在放電量校準(zhǔn)器擊穿而使高壓線路短路。

四，XEDJF局部放電量測(cè)試儀成套裝置
1. 輸入阻抗
1~12號(hào)任選，7R號(hào)測(cè)長(zhǎng)電纜用。
2. 視在放電量器校準(zhǔn)器（XED－10校正電量發(fā)生器，局放儀校正脈沖發(fā)生器）任選。
3. XED系列工頻、中頻濾波器
4. XEDSP系列三倍頻感應(yīng)試驗(yàn)設(shè)備
5. 無(wú)局放電阻分壓器50KV、100KV、150KV、200KV任選。
6. 無(wú)局放耦合電容系列
7.XEDWB無(wú)局放試驗(yàn)變壓器系列
8. 工頻試驗(yàn)控制臺(tái)

 

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